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GIS氣體離子源 當前位置:主頁 > 技術說明 > GIS氣體離子源
   磁控溅射是一種理想的金屬蒸發靶源:放電工作穩定、沉積速率易控、镀膜均勻好。但是,在進行化學反應性镀膜(TiN、TiO2)時,通入的反應性氣體,會造成磁控靶面的毒化(化學反應),蒸發速率的急劇降低…等一系列雪崩式後果,造成磁控溅射反應镀膜極大的不穩定性和不可控性,爲了解決這一問題,北京北方華創丹普表面技術有限公司開發出矩形氣體離子源(GIS)。
 
  GIS的優點
 
  ● 無燈絲、無空心陰極、無熱陰極、無柵極,氣體離子源上不產生金屬溅射汙染;適用于任何惰性和反應性氣體,以及它們的混合氣;
  ● 結構簡單,絕緣性好、使用壽命長、很少維護需要;
  ● 矩形結構,與矩形磁控溅射源尺寸完全匹配,並向真空室镀膜區域均勻布氣;
  ● 在磁控溅射的真空範圍內,離子源能夠正常穩定放電工作;離子源需要進氣量符合磁控溅射源的工作條件;
  ● 端法蘭結構密封,方便安裝。360度任意調整布氣方向。
 
  GIS技術的應用
 
  1、GIMS-TiN(1微米以上的厚TiN膜),再镀Au(合金)或玫瑰金等(高档IPG)。單爐一次性完成;
  2、GIMS-SS+TiN(厚膜),再镀Au(合金)或玫瑰金等(單爐一次性完成)。然後,再進行部分掩膜退去外層的TiN層和金層,實現白和金色的雙色效果;
  3、通入Ar氣GIS放電,實現Ar離子的轟擊清洗功能---等離子體處理(清洗),代替了衛浴潔具電镀工件的水質超聲清洗功能。實現了綠色環保技術要求;
  4、對集成電路表面進行GIS-Ar離子轟擊清洗,加強塑料封裝外殼表面金屬化的膜層結合力。
 
  
延伸閱讀:氣體離子源增強磁控溅射反應镀膜技術(GIMS)

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